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專為以下工程師度身定制：
- 專為通訊，消費電子和IC行業的測試而創建的ATE測試平臺；
- 渴望加速產品開發周期并大幅提高效率；
- 需要更進一步了解NI模塊化儀器產品及應用詳細內容。
通過本場研討會，您將學習到：
- 了解在創建基于PXI的ATE測試系統時必需的技術要點，尤其是針對通訊，消費電子和IC行業的測試；
- 學習上述行業設計和測試的難點以及如何克服這些難點；
- 通過實際的案例學習模塊化儀器的應用‘
本場研討會中，涉及的產品包括：
2輸入/2輸出 24位動態信號采集與生成設備
200 MHz 信號發生器
200 MHz 高速數字化儀
100 MHz 高速數字IO
數字萬用表和開關模塊
射頻測量和發生設備
最新的 7位半數字萬用表 - NI PXI-4071
最新的 可變分辨率數字化儀 - NI PXI-5922
在本次研討會中，NI主講工程師將現場穿插不同的應用演示，幫助您進一步理解基于PXI的模塊化儀器的優勢所在。
預備知識提示：
- 了解基于計算機技術的測量與自動化系統
- 了解示波器、萬用表、信號源等的基本運作
了解更多模塊化儀器信息：http://ni.com/china/mi
時間和地點：
2006/2/21 東莞 14:00-17:00 東莞銀城酒店四樓名仕1號廳（東莞市南城區莞太大道48號）
2006/2/24 深圳 14:00-17:00 深圳荔園酒店6樓大會議廳（深圳紅嶺中路1018號）
更多信息請訪問http://www.ni.com/china，或與NI上海分公司聯系：上海市曲陽路800號商務大廈6樓（200437），電話:(021)65557838，傳真:(021）65556244，E-mail：china.info@ni.com。免費咨詢電話：800 820 3622 |
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