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基于0.5μm BCD工藝的欠壓鎖存電路設(shè)計(jì)

摘要：　　隨著集成電路技術(shù)的發(fā)展，對(duì)電源管理芯片的開(kāi)關(guān)頻率、傳輸延遲、穩(wěn)定性、功耗等各種要求越來(lái)越高，以保證電源電壓在波動(dòng)的情況下能夠可靠的工作。
　　一般的電源芯片上電啟動(dòng)時(shí)，電源會(huì)通過(guò)輸入端的等效電阻和電容對(duì)其充電，使得電源芯片的電壓逐步上升，直到電壓上升到芯片的開(kāi)啟電壓時(shí)電路正常工作。然而若系統(tǒng)的負(fù)載電流較大，有可能把電路的電壓拉低到開(kāi)啟電壓以下，出現(xiàn)一開(kāi)啟就關(guān)斷的情況。為了保證電路正常進(jìn)入啟動(dòng)狀態(tài)并且穩(wěn)定工作，同時(shí)也為了電路工作時(shí)電源電壓的波動(dòng)不會(huì)對(duì)整個(gè)電路和系統(tǒng)造成損害，一般使用所謂的欠壓鎖存(Under Voltage LockOut，UVLO)電路對(duì)電源電壓實(shí)時(shí)監(jiān)控和鎖存。

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