項(xiàng)目 |
功能 |
規(guī)格 |
測(cè)試點(diǎn)數(shù) |
標(biāo)準(zhǔn)配置:384點(diǎn) | |
最大點(diǎn)數(shù):2048點(diǎn) | ||
最大可擴(kuò)充:65,536點(diǎn) | ||
開(kāi)關(guān)卡 |
CMOS+Relay |
每一信道卡128個(gè)信道 |
CMOS+放電Relay |
每一信道卡64個(gè)信道(選購(gòu)) | |
隔離點(diǎn) |
每一測(cè)試有10個(gè) | |
測(cè)試信號(hào)源(可程序) |
DC電壓 |
±10mV~±7.5V或15V |
AC電壓 |
10mVPP~10VPP | |
AC/DA電流 |
10uA~20mA | |
測(cè)試頻率 |
120, 1020, 10K, 100KHz, 2MHz(60MHz) 100,1000,10K, 100KHz, 2MHz(50MHz) | |
測(cè)試步驟 |
無(wú)限制 | |
測(cè)試速度 |
每一組件:2mS~4mS | |
開(kāi)/短路 0.5秒/1,024點(diǎn) | ||
測(cè)試范圍 |
電阻 |
0.01Ω~100MΩ(二線式)±1%~5% |
電容 |
1pF~40mF±2%~5% | |
電感 |
1uH~50H±2%~5% | |
二極管 |
0.1~6V±1%~3% | |
穩(wěn)壓二極管 |
0.1~12V±1%~3% | |
電晶體 |
三端測(cè)試Vce飽和電壓及β值 | |
場(chǎng)效電晶體 |
三端測(cè)試Vds,Cds&Rd(on) | |
光耦器及繼電器 |
四端測(cè)試其導(dǎo)通壓或電阻 | |
阻抗串并聯(lián) |
采用多頻測(cè)試及相位分離法(8°~82°) | |
EC Jet |
C電容極性鑒別技術(shù) / 并聯(lián)EC電容漏件 | |
TA Jet |
SMT IC, BGA, 南北橋,SCSI/PCI SMD Connector, 開(kāi)/短路及空焊測(cè)試 | |
測(cè)試功能 |
二級(jí)(穩(wěn)壓)管 |
1至15V |
電阻(四線式) |
最小50mΩ(四線式)±1%~5% | |
DR Mode |
可測(cè)二極管或IC漏件及空焊檢測(cè) | |
開(kāi)/短路 |
O/S進(jìn)階參數(shù)設(shè)定 | |
硬件功能 |
自動(dòng)蓋章 |
測(cè)試PASS or Fail 自動(dòng)蓋章設(shè)備 |
監(jiān)控放置 |
監(jiān)控放置方位(Pass與Fail分流) | |
程序啟動(dòng)壓床 |
唯有ICT程序啟動(dòng)時(shí)壓床方可動(dòng)作 | |
軟件功能 |
一般功能 |
ICD獨(dú)立Sheet |
板示功能(Board View) | ||
板示自動(dòng)生成 | ||
輸出可測(cè)率分析表 | ||
匯入他廠文件 |
TRI(德律),JIET(捷智) | |
功率場(chǎng)效電晶體 |
三端測(cè)試Vds,Cds&Rd(on) | |
光耦器及繼電器 |
四端測(cè)試其導(dǎo)通壓或電阻 | |
主處理機(jī) |
CPU: Pentium4以上/ RAM: 2GB / H.D.D: 顯示器: | |
操作系統(tǒng) |
Windows XP | |
客戶可自行搭售 |
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所有規(guī)格均經(jīng)詳細(xì)確認(rèn),以保證其準(zhǔn)確性。之后規(guī)格若有變動(dòng),則以本公司新發(fā)布之規(guī)格為標(biāo)準(zhǔn) |