電路板故障檢測(cè)儀強(qiáng)大的測(cè)試功能特點(diǎn):
1)適合各種類型的測(cè)試,模擬及數(shù)字集成電路及各種分立器件的測(cè)試
電路板故障檢測(cè)儀測(cè)試參數(shù):
V-I 測(cè)試參數(shù) | |
量測(cè)通道: | 24 多任務(wù)信道+ 2 實(shí)時(shí)對(duì)比通道 + 2 同步脈沖信號(hào)信道 |
信號(hào)電壓范圍: | 2 V to 50 V peak to peak |
電壓分辨率: | 8 to 12 bits |
信號(hào)頻率范圍: | 37.5 Hz to 12 kHz |
信號(hào)電流范圍: | 1 μA to 150 mA |
信號(hào)阻抗范圍: | 100 Ohm to 1 M |
測(cè)試信號(hào)波形: | 正弦波,方波,三角波,斜波,脈沖波 |
顯示圖形模式: | V-I, V-T, I-T |
量測(cè)波形自動(dòng)對(duì)比功能: | 可利用實(shí)時(shí)量測(cè)雙通道來(lái)自動(dòng)實(shí)時(shí)對(duì)比好壞組件的波形, 或是將波形進(jìn)行存儲(chǔ)之后, 再進(jìn)行比對(duì)工作. |
同步脈沖輸出模式: | 正向(Positive), 負(fù)向(negative)或雙向(bipolar)波形 |
同步信號(hào)振幅: | 可調(diào)式由 +10 V ~ - 10V |
電路板故障檢測(cè)儀全功能V-I測(cè)試模塊2400
全功能V-I測(cè)試儀
這是一個(gè)良好電容器的基本V-I圖形,可以利用實(shí)時(shí)對(duì)比通道來(lái)進(jìn)行波形比對(duì),可依比對(duì)的相似度來(lái)判定是否為故障組件的圖形.
可利用實(shí)時(shí)雙信道對(duì)比模式來(lái)實(shí)時(shí)比對(duì)二點(diǎn)不同通道的波形差異度.可利用此方式來(lái)分辯好板壞板上各點(diǎn)量測(cè)波形的相似度,進(jìn)而找到故障的組件.而此方式適合剛?cè)腴T(mén)的檢修工程人員來(lái)使用.
此模塊還提供了二個(gè)同步脈波輸出信號(hào),可提供MOSFET或門(mén)流體的觸發(fā)信號(hào).而其脈沖寬度, 信號(hào)極性及觸發(fā)角度皆可設(shè)置.
功能強(qiáng)大的矩陣掃描式VI曲線量測(cè)方式.它可分別依序?qū)⒏鞴苣_作為一信號(hào)的基準(zhǔn)點(diǎn),再對(duì)其它的管腳作VI曲線量測(cè).此功能會(huì)比一般的VI曲線量測(cè)更精準(zhǔn),更快速.
可同時(shí)顯示多組波形在同一個(gè)顯示窗內(nèi).此方式可同時(shí)檢視多個(gè)通道的比對(duì)結(jié)果.或是點(diǎn)選放大其中一個(gè)波形來(lái)進(jìn)行故障波形分析.
V-I 測(cè)試能力
量測(cè)通道:24 多任務(wù)信道+2實(shí)時(shí)對(duì)比通道+2同步脈沖信號(hào)信道
信號(hào)電壓范圍:2 V to 50 V peak to peak
電壓分辨率:8 to 12 bits
信號(hào)頻率范圍:37.5 Hz to 12 kHz
信號(hào)電流范圍:1 µA to 150 mA
信號(hào)阻抗范圍:100 Ohm to 1 M
測(cè)試信號(hào)波形:Sine, square, triangle, ramp, pulse
顯示圖形模式:V-I, V-T, I-T
量測(cè)波形自動(dòng)對(duì)比功能:可利用實(shí)時(shí)量測(cè)雙通道來(lái)自動(dòng)實(shí)時(shí)對(duì)比好壞組件的波形,或是將波形進(jìn)行存儲(chǔ)之后,再進(jìn)行比對(duì)工作.
同步脈沖輸出模式:正向(Positive), 負(fù)向(negative)或雙向(bipolar)波形
同步信號(hào)振幅:可調(diào)式由+10 V~-10V
信號(hào)校正:自動(dòng)
附件(Accessories)
http://www.17equipment.com/productlist66.html
標(biāo)準(zhǔn)附件
1x24通道DIL測(cè)試夾
VI曲線的定義
V-I曲線測(cè)試是一種針對(duì)模擬及數(shù)字電路全方位且可靠度高的測(cè)試方法.其測(cè)試方式是透過(guò)輸出電壓信號(hào)通過(guò)被測(cè)組件上所形成的電流信號(hào),而定義出該被測(cè)節(jié)點(diǎn)的阻抗.
而經(jīng)由連續(xù)的電壓-電流信號(hào)的變化所產(chǎn)生的阻抗測(cè)試數(shù)據(jù),將此一連續(xù)的測(cè)試數(shù)據(jù)繪制成一曲線,此為被測(cè)組件的V-I曲線. 通常可利用已知好的電路板上的V-I曲線,來(lái)比對(duì)待測(cè)的電路板或組件,可達(dá)到快速故障診斷的目的.而這項(xiàng)測(cè)試技術(shù)最主要的優(yōu)勢(shì)是在于不需為電路板或組件加電,即可直接進(jìn)行比對(duì)測(cè)試.所以,即使是無(wú)法動(dòng)作的電路板也可以進(jìn)行故障檢測(cè)工作.