萊姆電子(中國(guó))有限公司 深圳分公司 趙蘇晉
一:CTSR系列簡(jiǎn)介
CTSR系列是LEM 在2011年發(fā)布的一款用于漏電流檢測(cè)的傳感器,該系列傳感器基于Fluxgate原理,目前可實(shí)現(xiàn)對(duì)300ma,600ma,1A漏電流的檢測(cè),可應(yīng)用于光伏,電力等需要漏電流檢測(cè)的行業(yè)。在進(jìn)行測(cè)量時(shí)候,將承載漏電流的接地線通過(guò)傳感器中間的圓孔,通過(guò)測(cè)量傳感器的輸出推算出漏電流值。
由于漏電流檢測(cè)涉及到安全因素,因此不但要保證測(cè)量的精確性,同時(shí)也要保證器件本身是否正常。基于這個(gè)原因,LEM在該系列產(chǎn)品上增加了器件的自我檢測(cè)的功能。目前該功能是市場(chǎng)上大部分同類產(chǎn)品所不具備的,本文即闡述這一功能的具體用法。
自檢的實(shí)現(xiàn)有2個(gè)級(jí)別,簡(jiǎn)單的自檢是對(duì)傳感器內(nèi)部ASIC的檢測(cè),而更完善的自檢則是對(duì)整個(gè)傳感器輸出測(cè)試電流,進(jìn)而檢測(cè)漏電流傳感器精度的方式。
二:簡(jiǎn)單自檢功能用法
CTSR系列的副邊共有4個(gè)管腳,分別是VCC(電源),0v(地),Ref(參考腳),Out(輸出腳)。
自檢功能是配合使用Ref和Out兩個(gè)管腳來(lái)完成的:
首先,需要將Ref拉低至0v到1v范圍內(nèi)的低電平并持續(xù)至少30ms,此時(shí)傳感器進(jìn)入自檢模式;
然后,對(duì)Out管腳的輸出電平Vout進(jìn)行檢測(cè),如果在表1所述范圍,說(shuō)明傳感器正常,否則說(shuō)明該傳感器已經(jīng)失效;
表1 自檢模式下的Vout輸出范圍:
將Ref管腳的低電平釋放后40us,傳感器結(jié)束自檢模式,然后進(jìn)入持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)約110ms的去磁模式,去磁結(jié)束之后才進(jìn)入正常測(cè)量模式。整個(gè)時(shí)序詳見(jiàn)下圖:
三:簡(jiǎn)單自檢功能的實(shí)際使用
在實(shí)際應(yīng)用中,由于傳感器的Ref和Out可能會(huì)傳輸比較長(zhǎng)的距離,因此可能引入共模干擾,為了減少共模干擾以及溫漂的影響,通常會(huì)將Ref與Out接成差分輸入的方式。本文采用了TI公司的ADS1000作為AD轉(zhuǎn)換器,該器件內(nèi)置有PGA環(huán)節(jié),可對(duì)差分輸入量放大之后再進(jìn)行AD轉(zhuǎn)換。
當(dāng)CTSR的Ref用于輸出模式時(shí),Vout的輸出范圍可達(dá)2.5v±2v,因此如果需要得到整個(gè)測(cè)量范圍的值,需設(shè)置PGA=1。
實(shí)現(xiàn)自檢模式時(shí),將微控制器的IO口置為高電平,經(jīng)U3跟隨之后驅(qū)動(dòng)Q1,此時(shí)Q1導(dǎo)通,由傳感器內(nèi)部的2.5V基準(zhǔn)經(jīng)過(guò)內(nèi)部的500ohm電阻給Q1灌電流,將Ref拉低,當(dāng)這一過(guò)程持續(xù)超過(guò)30ms,傳感器開(kāi)始自檢,此時(shí)將AD采集得到的數(shù)據(jù)與表1中的數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)。由于U1將Ref和Out接成差分模式,因此應(yīng)該是將AD值與Vout和Vref的差值進(jìn)行對(duì)比。
例如采用CTSR 0.3-P時(shí),如果發(fā)現(xiàn)AD采集值在[0.7,1.7v]的范圍,則表明傳感器自檢成功,否則失敗。
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