展覽會(huì)時(shí)間:2005年11月22日-25日 研討會(huì)時(shí)間:2004年11月23日-24日
展覽會(huì)地點(diǎn):上海浦東新國際博覽中心 研討會(huì)地點(diǎn):上海浦東新國際博覽中心3號(hào)館M10(上海市浦東龍陽路2345號(hào))
支持單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子信息產(chǎn)品管理司
信息產(chǎn)業(yè)部經(jīng)濟(jì)運(yùn)行與體制改革司
主辦單位:中國電子器材總公司/中國電子儀器行業(yè)協(xié)會(huì)
協(xié)辦單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所(中國賽寶實(shí)驗(yàn)室)/中國電子學(xué)會(huì)
臺(tái)灣區(qū)電機(jī)電子工業(yè)同業(yè)公會(huì)測試儀器委員會(huì)
媒體支持:中國電子報(bào)/中國儀器儀表/電子測量與儀器學(xué)報(bào)/國外電子測量技術(shù)/電子測量技術(shù)/電子質(zhì)量/電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境實(shí)驗(yàn)/測控技術(shù)/儀表技術(shù)與傳感器/儀表技術(shù)/儀器儀表商情
網(wǎng)絡(luò)支持:東方電子集成商務(wù)網(wǎng)www.jicheng.net.cn /中國工控網(wǎng)www.gongkong.com /5117網(wǎng)
承辦單位:中電會(huì)展與信息傳播有限公司
測試與測量技術(shù)是信息產(chǎn)業(yè)的三大關(guān)鍵技術(shù)之一,隨著中國電子信息產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展,測試測量技術(shù)及相關(guān)的儀器儀表已成為信息化帶動(dòng)工業(yè)化的重要紐帶。
進(jìn)入21世紀(jì)以來,新工藝、新材料、新的制造技術(shù)催生了新的一代電子元器件,同時(shí)也促使電子測量技術(shù)和電子測量儀器產(chǎn)生了新概念和新發(fā)展趨勢。新型元器件測量儀器、集成電路、通用數(shù)字化測量儀器、通信、數(shù)字視頻、音頻、計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)測量儀器和微波測量儀器等一系列電子儀器將成為開發(fā)重點(diǎn),從而為國內(nèi)外電子測量儀器生產(chǎn)開發(fā)商提供了很好的商機(jī)。
質(zhì)量是企業(yè)生存和發(fā)展的生命線,測試是質(zhì)量的重要保證,測試與質(zhì)量保證密不可分,信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所作為中國唯一的專業(yè)電子產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性技術(shù)研究所,自1955年建所以來,始終引領(lǐng)電子測試與質(zhì)量保證技術(shù)發(fā)展的前沿,已成為國內(nèi)外知名的電子測試與質(zhì)量保證技術(shù)權(quán)威機(jī)構(gòu)。時(shí)值五所喜迎五十華誕之際,由五所隆重推出的“電子測試與質(zhì)量保證專場”,將對企業(yè)建立和完善產(chǎn)品的質(zhì)量保證體系,應(yīng)對國際經(jīng)濟(jì)全球化的挑戰(zhàn),提高企業(yè)競爭力具有直接幫助和重要意義。
同時(shí)為豐富“第五屆電子測試與測量專題研討會(huì)”的內(nèi)容,在第66屆CEF中的3號(hào)館專門開設(shè)了儀器儀表專館,集中展示國內(nèi)外眾多知名儀器儀表廠商的最新產(chǎn)品和技術(shù)。
CEF組委會(huì)依托40年累積的數(shù)據(jù)庫資源,并邀請航空、航天、船舶、兵器、核工業(yè)、冶金、化工、電子研究院所、大專院校等單位專業(yè)聽眾參加技術(shù)講座,借助同期舉辦 的“66屆全國電子產(chǎn)品展覽會(huì)”,“亞州電子展”的強(qiáng)勢人氣,這次盛會(huì)必將成為您了解、評估、比較、選擇自身業(yè)務(wù)發(fā)展的新產(chǎn)品、新技術(shù)、解決方案及服務(wù)的最佳平臺(tái)!
1.注冊聽眾。注冊費(fèi)500元/人。為您預(yù)留席位,贈(zèng)送展會(huì)會(huì)刊和研討會(huì)論文集及精美禮品,免費(fèi)提供午餐。第66屆CEF參展商、中國電子儀器行業(yè)協(xié)會(huì)會(huì)員或單位注冊聽眾二人以上均可享受8折優(yōu)惠!
2.免費(fèi)聽眾。贈(zèng)送聽會(huì)證件。
收款單位:中電會(huì)展與信息傳播有限公司
開戶銀行:招商銀行北京分行萬壽路支行
帳號(hào):1382076910001(請注明“2005國際測試與測量”)




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本文鏈接:第五屆國際電子測試與測量專業(yè)研討會(huì)(圖
http:m.mangadaku.com/news/2005-10/20051024111341.html
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